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八巻 徹也; 加藤 翔*; 山本 春也; 箱田 照幸; 川口 和弘*; 小林 知洋*; 鈴木 晶大*; 寺井 隆幸*
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グラッシーカーボン(GC)基板に対しタングステン(W)あるいは白金(Pt)イオンを注入すると、WはGCと化合物を形成するが、Ptでは化合物の形成はないと予測される。このように化学的挙動が相反する元素について、X線光電子分光(XPS)分析により注入層における化学状態、分散状態を詳細に検討した。W注入層はWCとWCの混合相を主成分とする炭化タングステンナノ微粒子からなっており、WC/WC混合比は生成化合物の標準ギブス自由エネルギーを用いて説明することが可能であった。一方、Pt注入層では、注入イオンは原子状に存在しており凝集している様子が全く確認できなかった。XPS分析からはPt-C結合の存在が示唆され、注入したPtとGCとの間で何らかの電子的相互作用があることが見出された。